市場現況
專業 AOI 設備市場
傳統 AOI（Automatic Optical Inspection）系統，多由專業 AOI 廠商開發，結合自動化機械、電機控制、光學模組與影像辨識軟體，提供高精度自動檢測設備。
此類設備通常針對特定產線與單一應用開發，設備成本高昂，單機價格可達數百萬至上千萬元。
嵌入式 AOI 軟體市場
另一類嵌入式 AOI 廠商，則提供標準化 AOI 軟體工具與開發平台，主要用於一般性檢測需求。
然而，面對高度客製化、特殊場域或非標準化檢測需求時，往往難以有效對應與快速導入。
市場挑戰
隨著產業面臨人力短缺與智慧製造升級需求，自動化影像檢測需求持續增加。
但許多實際應用屬於高客製化、利基型市場，具有：
-
檢測條件複雜
-
現場環境差異大
-
標準化程度低
-
導入成本敏感
等特性，使傳統 AOI 設備商不易投入，而標準化 AOI 工具亦難以完全滿足需求。
一二三視優勢
深厚影像辨識技術能力
具備多年 AI 影像辨識與演算法研發經驗，可針對特殊場域與複雜條件開發專屬辨識模型。
高客製化 AOI 解決方案
能依據客戶實際需求，快速開發客製化 AOI 檢測系統，協助解決非標準化檢測問題。
聚焦利基型市場需求
專注於主流 AOI 廠商較少投入之高客製化應用領域，協助客戶以更具彈性與成本效益的方式導入智慧檢測方案。
- - - - - - - - - -
藥盒辨識
透過 AI 影像辨識技術，自動學習各類藥盒包裝特徵，針對不同藥品、規格與包裝進行建檔與比對。即使為同品牌、同藥品的不同規格包裝，或外觀相似的藥盒，也能透過影像特徵進行精準辨識。可有效協助藥品分類、盤點與管理，降低人工辨識錯誤，提升整體作業效率，打造智慧化藥品管理流程。
焚化爐投入口異常堵塞偵測
結合 AOI 自動光學檢測（Automatic Optical Inspection）與 AI 影像辨識技術，針對焚化爐垃圾投入口建立垃圾外觀特徵模型與異常判定機制。即使於高粉塵、髒污及複雜背景環境下，仍可即時辨識垃圾堆積、堵塞或進料異常等情形，並進行即時告警與事件紀錄，協助降低設備異常風險，提升焚化爐運轉穩定性與工安管理效率。
AOI Wafer Mapping 晶圓異常檢測
透過 AOI 自動光學檢測結合 Wafer Mapping 技術，針對晶圓載具進行即時影像分析，可辨識晶圓堆疊、斜插、缺角、空片、破裂及破片等異常狀況。
系統可建立晶圓特徵模型與異常判定機制，協助產線即時預警與異常追蹤，提升半導體製程自動化與品質管理效率。
單晶圓清洗製程 AOI 檢測
