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智能影像分析

智能影像分析類別

工廠製程分析

Wafer Slot 計數 

 

Wafer Slot 影像辨識目的

 

由於八吋廠機台在判斷Wafer Slot時,速度緩慢,從上到下會掃瞄2次,

希望可以減少製成時間,將Mapping步驟省略, 

如果改成[影像辨識方式]只要0.5秒時間,即可以判斷Slot所在位置, 

由EAP判斷時可以跳過此時間,讓前置作業時間可以加快, 

對於晶圓廠而言

 

「時間就是金錢,分秒必爭,增加產能。」

 

 

 

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